웨이퍼나 PCB 검사 프로젝트를 진행하다 보면 동일한 패턴이 반복되는 이미지를 자주 다루게 된다. 이러한 이미지에서 미세 결함(Defect)을 검출하기 위해서는, 강한 에지 성분을 가진 반복 패턴을 먼저 제거(Pattern Removal)해야 한다. 패턴 제거를 위해 FFT 필터링이나 마스터 이미지와의 Subtraction 방식을 고려하고 있는데, 이를 위해서는 선행적으로 각 디펙트의 인덱싱정보를 위해 각 패턴의 정확한 중심 좌표(Center Position)를 확보해야 한다. 본 포스팅에서는 2D 이미지 프로세싱 부하를 줄이기 위해 투영(Projection) 기법을 활용하여 Grid Pattern의 중심을 검출하는 로직(GridPatternMatching) 구현 과정을 정리한다.1. 검증 환경 구성실제..
